NI發(fā)布2011自動化測試技術展望

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技術分類： 測試與測量| 2011-04-13
EDN China

　　美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）近日發(fā)布了《2011自動化測試技術展望》，就影響測試測量的技術與方法發(fā)表了研究結果。該報告所闡述的發(fā)展趨勢覆蓋了消費電子、汽車、半導體、航空航天、醫(yī)療設備和通信等眾多產業(yè)，幫助工程師和企業(yè)管理人員利用最新策略和最佳實踐案例，優(yōu)化測試組織架構。

　　《2011自動化測試技術展望》以學術和工業(yè)研究、網上論壇、問卷調查、商業(yè)咨詢、客戶反饋等多種形式廣泛進行調查，提出了下一代測試測量行業(yè)的發(fā)展趨勢，以應對該行業(yè)所存在的商業(yè)與技術挑戰(zhàn)。報告從四個方面進行了闡述：

　　-- 測試資源整合：將設計驗證和生產測試的資源整合在一起，需要重視人力資源、流程控制和技術等方面的革新。

　　-- 系統(tǒng)軟件棧：一個高度集成的軟件架構可以提升測試性能，并縮短開發(fā)時間時間。

　　-- 異質計算：未來的測試系統(tǒng)將會需要不同類型的運算節(jié)點，來滿足愈加嚴格的數據分析與處理要求。

　　--IPto the Pin：在設計與測試階段共享FPGA IP可顯著縮短對設計進行驗證測試的時間，提高產品測試的效率和故障檢測覆蓋率。

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