2025 西門(mén)子 AI EDA 工具系列線(xiàn)上研討會(huì)
【ZiDongHua之“設(shè)計(jì)自動(dòng)化”收錄關(guān)鍵詞:西門(mén)子 AI EDA 人工智能 物聯(lián)網(wǎng)】
立即報(bào)名|2025西門(mén)子AI EDA工具系列線(xiàn)上研討會(huì)
Introduction
會(huì)議簡(jiǎn)介
以人工智能,物聯(lián)網(wǎng),汽車(chē)和消費(fèi)電子等為代表的新興應(yīng)用帶來(lái)各類(lèi)高性能芯片需求激增,由此產(chǎn)生的IC設(shè)計(jì)、制造、先進(jìn)封裝和電路板系統(tǒng)的復(fù)雜性呈現(xiàn)出指數(shù)級(jí)增長(zhǎng),傳統(tǒng)的方法已無(wú)法滿(mǎn)足需求。我們?yōu)槟鷾?zhǔn)備了西門(mén)子AI EDA工具系列技術(shù)講座,幫助您超越傳統(tǒng)EDA的視角,運(yùn)用AI技術(shù)來(lái)優(yōu)化EDA軟件引擎、流程和工作流,深入了解半導(dǎo)體設(shè)計(jì)流程,實(shí)現(xiàn)可擴(kuò)展、可靠的結(jié)果,從而減少產(chǎn)品制造所需的時(shí)間和資源,同時(shí)提高工程設(shè)計(jì)能力。
Contents
會(huì)議內(nèi)容
01
Questa VIQ超越速度:
提高仿真與調(diào)試效率
主題簡(jiǎn)介:
借助AI/ML的力量,智能驗(yàn)證徹底變革了功能驗(yàn)證。其通過(guò)更快的引擎取代傳統(tǒng)的啟發(fā)式和分析算法,以全面提升工程師創(chuàng)建、分析和調(diào)試的生產(chǎn)力;并利用預(yù)測(cè)技術(shù)減少工作量,以?xún)?yōu)化和加速驗(yàn)證過(guò)程。我們將提供一個(gè)全面的概覽,來(lái)展示AI/ML在我們產(chǎn)品線(xiàn)中功能驗(yàn)證領(lǐng)域的應(yīng)用,并誠(chéng)邀客戶(hù)與我們共同探討如何利用這些技術(shù)解決您在驗(yàn)證過(guò)程中遇到的挑戰(zhàn)。
演講嘉賓:

高思喆
西門(mén)子EDA數(shù)字前端驗(yàn)證應(yīng)用工程師
02
Calibre加持AI技術(shù)
助力芯片物理驗(yàn)證快速收斂
主題簡(jiǎn)介:
半導(dǎo)體的復(fù)雜性不僅體現(xiàn)在工藝技術(shù)上,還體現(xiàn)在設(shè)計(jì)的復(fù)雜性上。這兩個(gè)因素導(dǎo)致了整個(gè)設(shè)計(jì)流程的總驗(yàn)證時(shí)間不斷增加。為了幫助扭轉(zhuǎn)這一趨勢(shì),Calibre一直在努力幫助用戶(hù)盡早優(yōu)化設(shè)計(jì)驗(yàn)證方法,以減少每次迭代的時(shí)間以及完成簽核所需的迭代總數(shù)。在本次研討會(huì)中,我們將介紹基于ML的調(diào)試及其應(yīng)用,以減少每次芯片級(jí)迭代的時(shí)間和工程成本。
演講嘉賓:

李劍雄
西門(mén)子EDA Calibre應(yīng)用工程顧問(wèn)
03
借助AI加速的Solido Simulation
Suite實(shí)現(xiàn)超高精度定制IC驗(yàn)證
主題簡(jiǎn)介:
人工智能(AI)持續(xù)革新定制IC驗(yàn)證,帶來(lái)巨大的運(yùn)行時(shí)間、可擴(kuò)展性和可用性?xún)?yōu)勢(shì),從而產(chǎn)生更具差異化的芯片設(shè)計(jì)。在本次會(huì)議中,我們將介紹Solido仿真套件,并探討Solido的新SPICE和FastSPICE技術(shù)(包括模擬器內(nèi)的AI)如何提供比傳統(tǒng)方法快幾個(gè)數(shù)量級(jí)的生產(chǎn)級(jí)精確結(jié)果。參加研討會(huì)并了解如何在多個(gè)工藝、電壓和溫度(PVT)角落實(shí)現(xiàn)更快、更準(zhǔn)確的SPICE級(jí)驗(yàn)證和分析,并利用這些信息為高價(jià)值的設(shè)計(jì)優(yōu)化步驟提供依據(jù)。

演講嘉賓:
馬泉
西門(mén)子EDA資深A(yù)MS產(chǎn)品應(yīng)用工程師
04
AI驅(qū)動(dòng)Solido Characterization
Suite&IP Validation加速定制
IP市場(chǎng)化
主題簡(jiǎn)介:
IP驗(yàn)證是決定上市時(shí)間和芯片成功的關(guān)鍵因素。對(duì)于成功的SoC流片,所有設(shè)計(jì)IP都必須正確選擇,并針對(duì)多種視圖(邏輯、物理、時(shí)序、SPICE等)進(jìn)行驗(yàn)證以確保一致性和正確性。這可能需要IP生產(chǎn)和集成團(tuán)隊(duì)每次迭代花費(fèi)數(shù)天或數(shù)周的時(shí)間。不理想的IP選擇,或者在設(shè)計(jì)階段后期發(fā)現(xiàn)的IP問(wèn)題,可能導(dǎo)致需要昂貴的ECO迭代、重新流片,或者最終產(chǎn)品無(wú)法滿(mǎn)足競(jìng)爭(zhēng)指標(biāo)。
在本次研討會(huì)中,我們將討論Solido的AI驅(qū)動(dòng)的IP生產(chǎn)、驗(yàn)證和選擇策略如何加速I(mǎi)P生產(chǎn)工作流程。Solido特性描述套件和Solido IP驗(yàn)證套件為IP和庫(kù)的特性描述、分析、比較和質(zhì)量保證提供了全面的解決方案,使IP和SoC團(tuán)隊(duì)能夠加快SoC流片進(jìn)度,并為最終芯片實(shí)現(xiàn)更好的功耗、性能和面積。
演講嘉賓:
桂涵姝
西門(mén)子EDA CICV資深應(yīng)用工程師
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